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Springer Netherlands Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies Image

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Springer Netherlands Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies

170.99 EUR*

Beschreibung

*CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies * - Process-Aware SRAM Design and Test. Softcover reprint of hardcover 1st edition 2008 / Taschenbücher für 170.99€ / Aus dem Bereich: Bücher-Wissenschaft-Technik Taschenbücher

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